ADVANced materials characterization

1. Overview

고체산화물 에너지 소재는 복합 양이온과 결함이 공존하는 복잡계로, 소자 성능과 열화 거동의 근본 원인을 규명하기 위해서는 원자·나노 스케일의 정밀 분석이 필수적입니다. SSEMS 연구팀은 전자 기반 분석 기술(TEM, FIB-SEM, EPMA 등)과 방사광 가속기 기반 X선 분광 기술(XRD, XANES/EXAFS, XPS)을 결합하여, 작동 조건 하에서의 in-situ·in-operando 분석을 포함한 첨단 소재 분석 역량을 보유하고 있습니다. 계면의 원자 구조, 산화 상태, 결함 분포를 직접 관찰함으로써 전기화학 성능의 한계를 결정짓는 근본 메커니즘을 해명하고, 차세대 소재 설계의 방향을 제시합니다. 

Solid state energy materials composed of complex materials of mixed cations and defects. These require sophiscated characterizations ex-situ but also in-situ. We delve into high-resolution analysis techniques to discover underlying fundamentals of solid state energy materials and to reach beyond current realm of electrochemical performance. Especially, electron based techniques and synchroton based X-ray techniques are used.

Features

• Advanced Electron microscopy techniques: TEM, FIB, SEM, EPMA, and etc.
  (See detailed instrument information: https://aac.kist.re.kr/aac/equipment/list)   

• Synchrotron-based X-ray spectroscopic techniques: X-ray diffraction, absorption spectroscopy, and photoelectron spectroscopy

• In-situ and in-operando characterization of materials under operation conditions

• Atomic-scale analysis of complex oxide materials and functional interfaces

2. Research Activities I: Electron based techniques

3. Research Activities II: X-ray based techniques